单片机处理AD采样数据的两种方法

单片机工程师在面试的过程中，经常会碰到一些相同的问题，笔者总结了十个提问率较高的问题，供大家参考。现在我们来分析单片机工程师常遇面试问题之四：单片机如何处理ADC采样数据？

前面作者有文章介绍了单片机是如何采样电压和电流的，如有不了解单片机ADC采样原理的小伙伴可以点击我的头像进入我的主页查看文章“单片机是如何采样电流？”。

首先一定有小伙伴有疑问，为什么还要对采样的数据进行处理呢？直接拿来用不行吗？对于这个问题，我的回答是不建议这样做，因为任何系统都会存在干扰，不进行处理就会有数据存在一定的误差。那么我进行数据处理就是要尽量避免因外界干扰引起的误差。

在这里作者推荐两种方法，第一种方法是多次采样加权取平均，我相信很多朋友都可以想到这种方法，但在写程序的时候可以运用一些技巧，作者分享给你。首先我们ADC采集8次数据并且对这8次数据累加（可以每1ms调用该函数），累加完成后将累加结果右移3位得到最后的采样结果。当然这个方法还可以进一步改善，比如取样10次，然后去掉最大值和最小值，再对剩下的8次进行取平均。下面贴出参考程序供小伙伴参考。

当然，第一种取平均的方法能够有效抑制干扰，但因为需要多次采样，更新数据的时间会很长，比如取样8次，每1ms取样一次，那么更新数据就需要8ms时间，所以对采样的数据实时性要求不是很高的系统才可以用这种方法。所以我们第二种方法就是用在实时性比较高的系统。作者推荐的是中值滤波的方法，实现思想就是取5个数据，每次采样的新数据替换掉最老的数据，然后把中间的那个数据当做是采样数据，这样不仅可以有效抑制干扰，而且响应速度快。

基于单片机STC89C51/52 +ADC0804 数据采样设计实例